多功能非损伤扫描微电极测试系统
（Non-Invasive Scanning Microelectrode Test System-NSMT）
多功能非损伤扫描微电极测试系统（Non-Invasive Scanning Microelectrode Test System-NSMT）是一个非接触的、用于液体介质中的微区电场、特定离子/分子浓度梯度及流速流向、或微区电化学活性的测试，具有原位、实时、活体、动态、无需标记、多种离子或分子可以同步测试，长时间采样等其它方法无法比拟的优势，主要应用于生命科学及材料学研究领域。该测试系统主要由各技术单元共用的系统研究平台（RP-1）和其它相应的硬件组成，系统研究平台（RP-1）主要采用一个程序控制的三维微定位四轴步进马达驱动套件（CMC-4），一个实时数据采集套件和一个视频显微成像套件（VZS-1），该平台用途广泛、硬件性能稳定、软件界面友好。RP-1被设计成可随用户的需求进行扩展并随用户的使用不断改进，其他外部设备（电化学综合测试系统、膜片钳、锁相放大器、信号发生器等）的模拟输出（+/-10VDC）可被输入到系统而不需要更改软件，也可以提供用户所需的软件功能；可使用商业化的或自制的微电极。系统测试软件ASET (Automated Scanning Electrode Techniques)历经三十年的应用和不断改进，现已日臻完善，该软件是独立于硬件，尽管它是基于AE公司的硬件设计，设计的程序使NSMT测试系统非常通用和容易配置，最新版的软件ASET-LV4 是基于 Labview在windows环境下运行的一个版本，数据可转换为ASCII text格式使得其可用于电子制表软件或绘图软件，视频格式以 bitmap 格式保存便于通用视频软件使用。
目前，AE公司多功能非损伤扫描微电极测试系统包含以下技术单元：
● SIET-Scanning Ion-selective Electrode Technique 扫描离子选择性电极技术
● SPET-Scanning Polarographic Electrode Technique 扫描极谱电极技术
● SVET-Scanning Vibrating Electrode Technique 扫描振动电极技术
● SMOT-Scanning Micro Optrode Technique 扫描微光极技术
● LEIS-Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy 局部电化学阻抗谱技术
● SECM-Scanning Electrochemical Microscopy 扫描电化学显微镜技术
● DVIT-Differential Video Imaging Technique 微分视频成像技术
